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Meistern Sie Ihre Bildanalyse zur Partikelunterscheidung
Mikroplastik, Reifenabrieb, Lunker oder Metalle

Meistern Sie Ihre Bildanalyse zur Partikelunterscheidung
Mikroplastik, Reifenabrieb, Lunker oder Metalle

Datum
22.06.2021, 11:00 - 12:00
Sprache
Deutsch
Gebühren ab
gebührenfrei
Veranstalter
Leica Microsystems
Organisator

Leica Microsystems
Leica Mikrosysteme Vertrieb GmbH
Marketing
Ernst-Leitz-Straße 17-37
DE - 35578 Wetzlar
Tel.: +49 (0) 6441 2940 00
Fax: +49 (0) 6441 2941 55

Sie wollen die Bildanalyse Ihrer Partikelproben aus Umwelttechnik oder Metallographie noch optimieren? Dann haben wir gute Nachrichten für Sie: In diesem Online Workshop wird Ihnen gezeigt, wie Sie Ihre Partikel kategorisieren und analysieren können - schnell und automatisiert.
  • Basisinformation
    Datum
    22.06.2021, 11:00 - 12:00
    Sprache
    Deutsch
    Gebühren ab
    gebührenfrei
    Veranstalter
    Leica Microsystems
    Organisator

    Leica Microsystems
    Leica Mikrosysteme Vertrieb GmbH
    Marketing
    Ernst-Leitz-Straße 17-37
    DE - 35578 Wetzlar
    Tel.: +49 (0) 6441 2940 00
    Fax: +49 (0) 6441 2941 55

  • Programm

    Ob Mikroplastik, Reifenabrieb, Lunker oder Metalle: Unsere beiden Experten analysieren gängige Partikeltypen und verraten tolle Tipps and Tricks, die Ihnen die Routinearbeit in Zukunft erleichtern. Nehmen Sie an unserem kostenlosen Online Workshop teil und lernen Sie alles, was Sie über die automatisierte mikroskopische Bildanalyse wissen müssen.

     

    Das lernen Sie:
    • Erfahren Sie, welche mikroskopischen Bildanalyse-Tools für die Partikelunterscheidung von Mikroplastik, Reifenabrieb, Gasporen, Lunker & andere Proben geeignet sind
    • Lernen Sie die Vorteile der Automatisierung Ihrer Bild- und Partikelanalyse kennen und erfahren Sie, wie Sie diese Schritt für Schritt, vom aufgenommenen Bild bis zum Excel-Report, einfach durchführen können.
    • Lernen Sie unser leistungsstarkes Bildanalyse-Tool zur automatisierten Partikeldifferenzierung kennen: LAS X Phase Expert

     

    Sprecher


    Christoph Frank:
    ​​​​​
    Christoph arbeitet seit 2000 als Advanced Workflow Specialist für Bildanalyse bei Leica Microsystems. Nach dem erfolgreichen Abschluss seines Studiums der Informatik und Elektrotechnik sammelte Christoph Berufserfahrung als Programmierer und Datenbankspezialist.
    Kaveh Foroughi:
    Kaveh arbeitet seit Januar 2012 als Applikationsspezialist für Imaging-Software und Mikroskopsysteme, insbesondere Digitalmikroskope, bei Leica Microsystems. Nach erfolgreichem Abschluss seines Studiums der Geowissenschaften und Geochemie sammelte Kaveh Berufserfahrung als Wissenschaftler im Bereich TEM und Lichtmikroskopie. 
     
     
  • Gebühren
  • Buchung / Anmeldung
  • Zertifizierung

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