Bei der optischen Inspektion elektronischer Komponenten – Wafer, Halbleiter, MEMS, Prozessoren – oder feinkörnigem Gefüge wie Hartmetallen kommt es auf jede Kleinigkeit an. Dumm nur, wenn der Tick Auflösung im Lichtmikroskop fehlt. In diesem Online Workshop stellt Ihnen die Expertin Dr. Nicol Ecke die innovative Oblique UV-Kontrastmethode vor, mit der Sie Ihre Probe hochauflösend und zugleich kontrastreich darstellen und Öl-Immersion oder einen Transfer ins REM vermeiden können.

• Basisinformation
  Datum

  20.08.2020, 13:00 - 13:45

  Sprache

  Deutsch

  Gebühren ab

  gebührenfrei

  Veranstalter

  Leica Microsystems
  

  Organisator

  Leica Microsystems
  Leica Mikrosysteme Vertrieb GmbH
  Marketing
  Ernst-Leitz-Straße 17-37
  DE - 35578 Wetzlar
  Tel.: +49 (0) 6441 2940 00
  Fax: +49 (0) 6441 2941 55

• Programm

  Online Workshop | 20. August 2020 | 13:00 Uhr

  • Empfohlen für: ✔ Anfänger ✔ Erfahrene ✔ Experten
  • Sprecher: Dr. Nicol Ecke, Advanced Workflow Manager
  • Live Vorführung: Leica DM8000 UV
  • Dauer: 45 Minuten

  Das lernen Sie
• Gebühren

  Fachärzte/-innen	Gebühren ab gebührenfrei
  Ärzte/-innen in Weiterbildung	Gebühren ab gebührenfrei
  medizinisches Fachpersonal	Gebühren ab gebührenfrei
• Buchung / Anmeldung

   

  

• Zertifizierung
  Keine Zertifizierung beantragt
• Sponsoren